Belgenin bir kopyasını isteyin

Sistem yöneticileri, oturum açarak ilgili dokümanı görebilirler.

Oturum aç

Sorumlu personelden belgenin bir kopyasını istemek için aşağıdaki bilgileri girin.

Influence of frequency and bias voltage on dielectric properties and electrical conductivity of Al/TiO2/p-Si/p(+) (MOS) structures