Sistem yöneticileri, oturum açarak ilgili dokümanı görebilirler.

Oturum aç

Sorumlu personelden belgenin bir kopyasını istemek için aşağıdaki bilgileri girin.

The influence of series resistance and interface states on intersecting behavior of I-V characteristics of Al/TiO2/p-Si (MIS) structures at low temperatures

Bu e-posta adresi belgeyi göndermek için kullanılır.